電(dian)纜故障測試儀的操(cao)作技巧有哪(na)些？

 多(duo)次脈(mo)沖(chong)(chong)(chong)電(dian)(dian)纜(lan)(lan)故障(zhang)測試儀是在二次脈(mo)沖(chong)(chong)(chong)法電(dian)(dian)纜(lan)(lan)故障(zhang)測試儀應用技術的基(ji)礎上*研發的多(duo)次脈(mo)沖(chong)(chong)(chong)法電(dian)(dian)纜(lan)(lan)故障(zhang)測試儀。勝緒(xu)電(dian)(dian)氣(qi)生(sheng)產的多(duo)次脈(mo)沖(chong)(chong)(chong)電(dian)(dian)纜(lan)(lan)故障(zhang)測試儀采用了*的“三次脈(mo)沖(chong)(chong)(chong)法”和(he)“多(duo)次脈(mo)沖(chong)(chong)(chong)法”技術，還采用了高(gao)級的測試技術和(he)高(gao)壓數據信息信號處理裝置(zhi)，使多(duo)次脈(mo)沖(chong)(chong)(chong)法故障(zhang)測試波形極易(yi)判斷(duan)、準確(que)性也較高(gao)。

 一(yi)、現場按多次脈(mo)沖(chong)法接好(hao)線路(lu)后，第yi次施加沖(chong)擊(ji)高(gao)壓如果得(de)不(bu)到(dao)較(jiao)為(wei)理想的(de)測試(shi)波(bo)形，也是很正常的(de)。因為(wei)事先(xian)并不(bu)知道故障(zhang)的(de)距離，故障(zhang)點的(de)抗(kang)電(dian)強度也不(bu)清楚(chu)。如果沖(chong)擊(ji)電(dian)壓加得(de)不(bu)夠高(gao)，故障(zhang)點沒有被沖(chong)擊(ji)高(gao)壓擊(ji)穿產生(sheng)電(dian)弧，是采(cai)集不(bu)到(dao)故障(zhang)回波(bo)的(de)。這時只能看到(dao)終端開路(lu)波(bo)形。必須提高(gao)沖(chong)擊(ji)電(dian)壓直到(dao)看到(dao)故障(zhang)回波(bo)為(wei)止。

二、有(you)(you)時(shi)故障(zhang)(zhang)點(dian)距(ju)測(ce)試(shi)端較(jiao)遠(yuan)，回波較(jiao)弱，就必須調整“長(chang)度選擇(ze)”，以便得到(dao)較(jiao)強的故障(zhang)(zhang)回波。電纜故障(zhang)(zhang)測(ce)試(shi)儀(yi)設有(you)(you)“短距(ju)離(li)(li)”、“中距(ju)離(li)(li)”、“長(chang)距(ju)離(li)(li)”三(san)種狀態。“短距(ju)離(li)(li)”適合測(ce)試(shi)1km距(ju)離(li)(li)內(nei)的故障(zhang)(zhang)，“中距(ju)離(li)(li)”適合測(ce)試(shi)1～3km距(ju)離(li)(li)內(nei)的故障(zhang)(zhang)，“長(chang)距(ju)離(li)(li)”適合測(ce)試(shi)3～16km距(ju)離(li)(li)內(nei)的故障(zhang)(zhang)。

三、為了保證故障點的(de)充分擊穿和有(you)足夠(gou)的(de)電(dian)(dian)弧延(yan)續時間(jian)，建(jian)議(yi)使用2μF耐壓35kV以上儲能電(dian)(dian)容。

四、在多(duo)次脈(mo)沖法測(ce)試過(guo)程(cheng)中，高壓(ya)(ya)(ya)設備與(yu)故(gu)障電(dian)纜(lan)(lan)之(zhi)間串有(you)“脈(mo)沖產生(sheng)(sheng)(sheng)器”，實(shi)際加到電(dian)纜(lan)(lan)故(gu)障相(xiang)上的沖擊(ji)高壓(ya)(ya)(ya)比高壓(ya)(ya)(ya)發(fa)(fa)生(sheng)(sheng)(sheng)器輸出的電(dian)壓(ya)(ya)(ya)要低一些(xie)。如果高壓(ya)(ya)(ya)發(fa)(fa)生(sheng)(sheng)(sheng)器的輸出電(dian)壓(ya)(ya)(ya)已經達到35～42kV，故(gu)障點還(huan)未擊(ji)穿(chuan)，此時(shi)應更換(huan)沖擊(ji)高壓(ya)(ya)(ya)閃絡電(dian)流(liu)取樣法進行測(ce)試。