回(hui)路電阻(zu)測試儀現場測試中可能存在的問題有(you)哪些(xie)？

回路電阻測(ce)試儀(yi)(yi)在電力行(xing)業中(zhong)應(ying)用十分廣泛。在實際試驗過程中(zhong)也會(hui)遇到一些問題，總結回路電阻測(ce)試儀(yi)(yi)現場測(ce)試中(zhong)可能存在的問題有哪些。

目前市場上大(da)部分(fen)回(hui)路電(dian)(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)(shi)儀原(yuan)理(li)是采(cai)用典型的(de)四線制測(ce)量法，由(you)高頻(pin)開(kai)關(guan)電(dian)(dian)源提供大(da)于(yu)100A的(de)測(ce)試(shi)(shi)電(dian)(dian)流(liu)，按下(xia)測(ce)量鍵時，高頻(pin)開(kai)關(guan)電(dian)(dian)源輸出(chu)大(da)于(yu)100A以(yi)上的(de)測(ce)試(shi)(shi)電(dian)(dian)流(liu)，同時采(cai)樣電(dian)(dian)路開(kai)始采(cai)樣，取得的(de)信號(hao)經放大(da)器放大(da)，由(you)A/D轉換器將模擬信號(hao)轉換成數字信號(hao)后，再經微處理(li)器對數據(ju)進行(xing)濾波、運算、處理(li)，后送(song)顯示(shi)器顯示(shi)出(chu)此(ci)次測(ce)量的(de)電(dian)(dian)流(liu)和電(dian)(dian)阻(zu)值。并(bing)可以(yi)在(zai)當電(dian)(dian)流(liu)測(ce)試(shi)(shi)回(hui)路出(chu)現斷線或接(jie)觸(chu)不(bu)(bu)良(liang)時，儀器會(hui)根據(ju)電(dian)(dian)流(liu)分(fen)流(liu)器上的(de)電(dian)(dian)壓判(pan)斷出(chu)電(dian)(dian)流(liu)回(hui)路接(jie)觸(chu)不(bu)(bu)良(liang)或開(kai)路。

一、現場測試(shi)可能存在(zai)的問題：

按照常規設計原理設計的回路(lu)電(dian)阻測試儀在現(xian)場測試時(shi)發現(xian)，都普遍(bian)存在一(yi)個(ge)(ge)問(wen)題：當測試儀電(dian)壓接(jie)線回路(lu)出現(xian)接(jie)觸不良(liang)或(huo)開路(lu)時(shi)，測試儀還會顯示(shi)一(yi)個(ge)(ge)數值(zhi)，此時(shi)會出現(xian)以下幾種(zhong)情況：

（1）電(dian)壓(ya)回路開(kai)路，測(ce)(ce)試(shi)現(xian)場沒有強電(dian)場干(gan)擾，這種情況(kuang)下，由于放大器(qi)輸入的差模電(dian)壓(ya)基本為0，故儀器(qi)顯(xian)示的測(ce)(ce)試(shi)數值接近為0，如果測(ce)(ce)試(shi)人員有足夠的現(xian)場測(ce)(ce)試(shi)經(jing)驗，可(ke)以判斷(duan)出是(shi)儀器(qi)電(dian)壓(ya)回路測(ce)(ce)試(shi)線異常，將儀器(qi)電(dian)壓(ya)回路測(ce)(ce)試(shi)線異常排(pai)除后，可(ke)以得(de)出終正確測(ce)(ce)試(shi)結果；

（2）電(dian)(dian)(dian)(dian)壓回路接觸不良(liang)，大多數(shu)情況下斷路器的(de)(de)接線端(duan)(duan)子在(zai)長期運行后端(duan)(duan)子排(pai)外表面會產生氧化膜(mo)或油膜(mo)，當回路電(dian)(dian)(dian)(dian)阻儀的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓測試(shi)鉗夾(jia)(jia)接到這樣的(de)(de)端(duan)(duan)子排(pai)上時(shi)就(jiu)可能(neng)產生接觸不良(liang)，既電(dian)(dian)(dian)(dian)壓測試(shi)線鉗夾(jia)(jia)本身也要產生一定的(de)(de)接觸電(dian)(dian)(dian)(dian)阻，該(gai)接觸電(dian)(dian)(dian)(dian)阻值(zhi)達到與電(dian)(dian)(dian)(dian)壓采樣回路的(de)(de)內(nei)阻值(zhi)相當時(shi)，將對測試(shi)結果產生嚴重影響。

（3）電壓(ya)(ya)回路(lu)開(kai)(kai)路(lu)或(huo)接(jie)(jie)觸不(bu)良（開(kai)(kai)路(lu)時可(ke)視接(jie)(jie)觸電阻R1無窮大），測試(shi)現(xian)場有較強的(de)(de)電磁干(gan)擾，如母線帶(dai)電，此時帶(dai)電母線通過(guo)以空氣為介質的(de)(de)電容，干(gan)擾測試(shi)儀的(de)(de)兩(liang)條電壓(ya)(ya)測試(shi)線，由于干(gan)擾的(de)(de)作(zuo)用使回路(lu)測試(shi)儀電壓(ya)(ya)采集線兩(liang)端(duan)出(chu)現(xian)差模電壓(ya)(ya)。

二(er)、利用改進(jin)型四線制測量法解(jie)決(jue)以(yi)上問題：

回路電(dian)(dian)(dian)阻測(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)根據對以上問題的(de)分析(xi)，采(cai)用電(dian)(dian)(dian)源(yuan)技術(shu)，通過大電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)恒(heng)流(liu)(liu)源(yuan)給(gei)試(shi)(shi)(shi)品(pin)(pin)加電(dian)(dian)(dian)測(ce)試(shi)(shi)(shi)，采(cai)集電(dian)(dian)(dian)壓電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)的(de)數值(zhi)，計(ji)算試(shi)(shi)(shi)品(pin)(pin)的(de)電(dian)(dian)(dian)阻值(zhi)，克服了脈沖(chong)式(shi)電(dian)(dian)(dian)源(yuan)瞬間電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)的(de)弊端，可以有效的(de)擊(ji)穿開關觸(chu)頭氧(yang)化膜，解決(jue)目前傳(chuan)統回路電(dian)(dian)(dian)阻測(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)存在(zai)的(de)問題。